Просмотр собрания по группе - Авторы Стаськов, Н. И.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
или введите несколько первых букв:  
Результаты 1 по 13 из 13
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2020Влияние подложки на пропускание и отражение слоевых структурМихеев, С. С.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И.
2007Возможности метода НПВО при исследовании приповерхностных слоев полимерных пленокСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2019Дисперсионные функции оптических характеристик золь-гель пленок титаната барияШилов, А. В.; Холов, П. А.; Мухаммедмурадов, А. А.; Стаськов, Н. И.; Роговцов, Д. А.
2004Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВОИвашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.
2009Контроль ориентации оптической оси подложки при помощи эллипсометра с бинарной модуляцией состояния поляризацииИвашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Петлицкий, А. Н.; Примак, И. У.; Сотская, Л. И.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И.
2022Минимизация отражения естественного света от диэлектрической пластины с антибликовым покрытиемЧудаков, Е. А.; Сотский, А. Б.; Понкратов, Д. В.; Стаськов, Н. И.
2011Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводникСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2007Оптические постоянные полистирола в области 1412–1500 см-1Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2007Роль физического практикума в преподавании курса общей физикиСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2019Спектральная эллипсометрия кварцевых подложек при углах БрюстераСтаськов, Н. И.; Парашков, С. О.; Крекотень, Н. А.
2012Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структурСтаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Ивашкевич, И. В.
2019Спектрофотометрия плоскопараллельных стеклянных пластинМихеев, С. С.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И.
2007Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоемСтаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. М.; Ивашкевич, И. В.