Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libr.msu.by/handle/123456789/10544
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМаматов, О.-
dc.contributor.authorНурматов, О. Р.-
dc.contributor.authorРахмонов, Т. И.-
dc.contributor.authorЮлдашев, Н. Х.-
dc.date.accessioned2019-12-19T14:24:34Z-
dc.date.available2019-12-19T14:24:34Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationФото- и тензоэлектрические свойства тонких пленок халькогенидов кадмия, полученных методом порциальных испарений в вакууме / О. Маматов [и др.] // Оптика неоднородных структур – 2019 : материалы V Международной научной конференции, Могилев, 28–29 мая 2019 г. / ред. кол.: А. Б. Сотский (отв. ред.) [и др.]. – Могилев : МГУ имени А. А. Кулешова, 2019. – С. 241–247.ru_RU
dc.identifier.urihttp://libr.msu.by/handle/123456789/10544-
dc.language.isootherru_RU
dc.publisherМогилевский государственный университет имени А. А. Кулешоваru_RU
dc.subjectтонкие поликристаллические пленкиru_RU
dc.subjectфотовольтаические свойстваru_RU
dc.subjectметод дискретного испарения в вакуумеru_RU
dc.subjectтемпература подложкиru_RU
dc.subjectотносительная деформацияru_RU
dc.subjectкоэффициент тензочувствительностиru_RU
dc.subjectвольтамперные, люк-самперные, люксвольтовые и спектральные характеристикиru_RU
dc.titleФото- и тензоэлектрические свойства тонких пленок халькогенидов кадмия, полученных методом порциальных испарений в вакуумеru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:2019 (Полный текст)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
1602n.pdf931,31 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.