Поиск


Текущие фильтры:
Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 1-8 из 8.
  • назад
  • 1
  • дальше
Найденные ресурсы:
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2018Сверхизлучение в слое активной среды с учетом квазирезонансной поляризацииТимощенко, Е. В.; Юревич, В. А.; Юревич, Ю. В.
2004Самоиндуцированная неустойчивость излучения, прошедшего сквозь тонкопленочный резонаторГлазунова, Е. В.; Глазунов, Е. В.; Морозова, С. В.; Юревич, В. А.
2003Особенности свойств резонансной системы “мода резонатора - 2-уровневые атомы”Глазунова, Е. В.
2020Резонансное отражение тонкого слоя плотной активной среды с релаксацией типа ап-конверсияТимощенко, Е. В.; Юревич, В. А.
2003Расчет ватт-амперной характеристики полупроводникового инжекционного лазераГлазунова, Е. В.; Ларкова, Е. В.
2004Резонансная зависимость неоднородно уширенной системы "мода резонатора - 2-уровневые атомы"Глазунова, Е. В.; Юревич, В. А.
2019Оптический эмиссионный спектральный анализ: опыт его применения для изучения археологических артефактов из стеклаКоролёва, Е. П.
2013Влияние поверхностного слоя при экспериментальном определении оптических характеристик кварцевых подложек методом эллипсометрииСтаровойтов, Л. Е.; Ткачев, Д. В.; Гусев, С. С.