Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libr.msu.by/handle/123456789/10674
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTimoshchenko, E. V.-
dc.contributor.authorYurevich, V. A.-
dc.contributor.authorYurevich, Yu. V.-
dc.date.accessioned2020-02-04T08:38:14Z-
dc.date.available2020-02-04T08:38:14Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationTimoshchenko, E. V. Resonance reflection of light by a thin layer of a dense nonlinear medium / E. V. Timoshchenko, V. A. Yurevich, Y. V. Yurevich // Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics. – 2013. – Vol. 58. – № 2. – Р. 251–254.ru_RU
dc.identifier.otherDOI: 10.1134/S 1063784213020254-
dc.identifier.urihttp://libr.msu.by/handle/123456789/10674-
dc.description.abstractThe possibility of hysteretic behavior of resonant reflection spectral curves is determined analytically for the conditions of the dipole-dipole interaction and spectral shift of the field. The phase shift of the acting field is associated with the variation of the energy state of a dense resonant medium forming a thin boundary layer. The problem is considered for the parameters of quantum-size structures based on semiconductors used in optics.ru_RU
dc.language.isoenru_RU
dc.publisherPleiades Publishing, Ltd.ru_RU
dc.subjectopticsru_RU
dc.titleResonance reflection of light by a thin layer of a dense nonlinear mediumru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:Научные публикации

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
1730n.pdf878,27 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.