Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://libr.msu.by/handle/123456789/10708Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Yurevich, V. A. | - |
| dc.contributor.author | Yurevich, Yu. V. | - |
| dc.contributor.author | Timoschenko, E. V. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-02-13T13:11:17Z | - |
| dc.date.available | 2020-02-13T13:11:17Z | - |
| dc.date.issued | 2016 | - |
| dc.identifier.citation | Yurevich, V. A. Resonant Reflection by Active Thin Layer / V. A. Yurevich, Yu. V. Yurevich, E. V. Timoschenko // Журнал прикладной спектроскопии. – 2016. – Т. 83. – № 6-16. – С. 307–308. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://libr.msu.by/handle/123456789/10708 | - |
| dc.description.abstract | In the ultra-thin layer approximation in semi-classical model of interaction the computation of resonant reflection of an ultrashort pulse by dense resonant film is carried out. We used the model parameters of semiconductor quantum-size structures. | ru_RU |
| dc.language.iso | en | ru_RU |
| dc.publisher | Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси | ru_RU |
| dc.subject | light reflection | ru_RU |
| dc.subject | thin film | ru_RU |
| dc.subject | resonant reflection | ru_RU |
| dc.title | Resonant Reflection by Active Thin Layer. | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 1760n.pdf | 749,19 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.