Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://libr.msu.by/handle/123456789/16262
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСтаськов, Н. И.-
dc.contributor.authorСотский, А. Б.-
dc.contributor.authorИвашкевич, И. В.-
dc.date.accessioned2021-10-05T12:33:35Z-
dc.date.available2021-10-05T12:33:35Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationСтаськов, Н. И. Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структур / Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, И. В. Ивашкевич // Итоги научных исследований ученых МГУ им. А.А. Кулешова : сборник научных статей / под ред. А. В. Иванова, Е. К. Сычовой. – Могилев : МГУ им. А.А. Кулешова, 2012. – С. 29–35.ru_RU
dc.identifier.isbn978-985-480-811-6-
dc.identifier.urihttps://libr.msu.by/handle/123456789/16262-
dc.description.abstractСозданы и программно реализованы новые методики и алгоритмы решения обратных задач спектральной эллипсометрии структур, содержащих металлические, диэлектрические и полупроводниковые слои с учетом переходных областей. Разработка служит для определения дисперсии оптических характеристик материалов, используемых в микроэлектронике и устройствах интегральной и волоконной оптики.ru_RU
dc.language.isootherru_RU
dc.publisherМогилевский государственный университет имени А. А. Кулешоваru_RU
dc.subjectполупроводниковые структурыru_RU
dc.subjectспектральная эллипсометрияru_RU
dc.subjectдисперсияru_RU
dc.titleСпектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структурru_RU
dc.typeArticleru_RU
Располагается в коллекциях:2012 (Полный текст)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
s2.PDF851,92 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.