Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://libr.msu.by/handle/123456789/10708| Название: | Resonant Reflection by Active Thin Layer. |
| Авторы: | Yurevich, V. A. Yurevich, Yu. V. Timoschenko, E. V. |
| Ключевые слова: | light reflection thin film resonant reflection |
| Дата публикации: | 2016 |
| Издательство: | Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси |
| Библиографическое описание: | Yurevich, V. A. Resonant Reflection by Active Thin Layer / V. A. Yurevich, Yu. V. Yurevich, E. V. Timoschenko // Журнал прикладной спектроскопии. – 2016. – Т. 83. – № 6-16. – С. 307–308. |
| Краткий осмотр (реферат): | In the ultra-thin layer approximation in semi-classical model of interaction the computation of resonant reflection of an ultrashort pulse by dense resonant film is carried out. We used the model parameters of semiconductor quantum-size structures. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://libr.msu.by/handle/123456789/10708 |
| Располагается в коллекциях: | Научные публикации |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 1760n.pdf | 749,19 kB | Adobe PDF |  Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.