Просмотр собрания по группе - Авторы Ивашкевич, И. В.
Результаты 1 по 12 из 12
Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
2018 | Александра Владимировна Волосевич | Новикова, С. Н.; Ивашкевич, И. В. |
2007 | Возможности метода НПВО при исследовании приповерхностных слоев полимерных пленок | Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В. |
2004 | Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВО | Ивашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И. |
2009 | Контроль ориентации оптической оси подложки при помощи эллипсометра с бинарной модуляцией состояния поляризации | Ивашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Петлицкий, А. Н.; Примак, И. У.; Сотская, Л. И.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И. |
2011 | Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводник | Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В. |
2007 | Оптические постоянные полистирола в области 1412–1500 см-1 | Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В. |
2022 | Оптические характеристики пленок оксида никеля, полученных методом ВЧ магнетронного напыления | Ивашкевич, И. В. |
2003 | Решение обратной задачи спектроскопии НПВО для одноосных пленок ПЭТФ | Ивашкевич, И. В. |
2007 | Роль физического практикума в преподавании курса общей физики | Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В. |
2012 | Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структур | Стаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Ивашкевич, И. В. |
2019 | Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрии | Ивашкевич, И. В.; Гарай, Е. Г.; Третьяк, Е. В. |
2007 | Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоем | Стаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. М.; Ивашкевич, И. В. |