Просмотр собрания по группе - Авторы Ивашкевич, И. В.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
или введите несколько первых букв:  
Результаты 1 по 12 из 12
Дата выпускаНазваниеАвтор(ы)
2018Александра Владимировна ВолосевичНовикова, С. Н.; Ивашкевич, И. В.
2007Возможности метода НПВО при исследовании приповерхностных слоев полимерных пленокСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2004Исследование молекулярной ориентации в вытянутых промышленных пленках ПЭТФ с помощью спектроскопии НПВОИвашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.
2009Контроль ориентации оптической оси подложки при помощи эллипсометра с бинарной модуляцией состояния поляризацииИвашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Петлицкий, А. Н.; Примак, И. У.; Сотская, Л. И.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И.
2011Моделирование переходных слоев в структуре полупроводник-диэлектрик-полупроводникСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2007Оптические постоянные полистирола в области 1412–1500 см-1Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2022Оптические характеристики пленок оксида никеля, полученных методом ВЧ магнетронного напыленияИвашкевич, И. В.
2003Решение обратной задачи спектроскопии НПВО для одноосных пленок ПЭТФИвашкевич, И. В.
2007Роль физического практикума в преподавании курса общей физикиСтаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.
2012Спектральная эллипсометрия металлических, диэлектрических и полупроводниковых структурСтаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Ивашкевич, И. В.
2019Учет неоднородности по толщине полупроводниковых пленок в спектральной эллипсометрииИвашкевич, И. В.; Гарай, Е. Г.; Третьяк, Е. В.
2007Эллипсометрия кремниевой подложки с естественным поверхностным слоемСтаськов, Н. И.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. М.; Ивашкевич, И. В.